| |
AT817 采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT817仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏科技精湛的技术，使其性能亦无可挑剔。
内建50Hz~100kHz 10点测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足多数生产现场的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型仪器操作系统，使AT817具有傻瓜式操作界面。
内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能。
内置Handler接口，配合RS232C接口完成复杂的自动控制系统。
| 技术规格 |
| ● |
测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) |
| ● |
测试频率：50Hz~100kHz |
| ● |
基本准确度：0.05% |
| ● |
测试电平：0.1V, 0.3V, 1.0V |
| ● |
测试速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 |
| ● |
主副参数5位显示 |
| ● |
L: 0.01μH-99999H |
| ● |
C: 0.01pF - 99999μF |
| ● |
R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ |
| ● |
D,Q: 0.00001 - 999999 |
| ● |
θ(deg): -90.000°- 90.000° |
| ● |
θ(rad): -3.1416 – 3.1416 |
| ● |
Δ%: -99999% - 99999% |
| ● |
输出阻抗：30Ω, 50Ω 100Ω |
| ● |
等效电路：串联, 并联 |
| ● |
9量程自动或手动测试。 | |
| 性能特征 |
| ● |
高亮度，超清晰四色VFD显示。 |
| ● |
校正功能：全量程程开路和短路扫频清零。 |
| ● |
第三窗口可同时显示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分选结果。 |
| ● |
比较器（分选）功能：内建20组分选记录，P1,P2,P3,NG,AUX 五档分选结果显示和输出。 |
| ● |
自定义分选结果讯响和音量。 |
| ● |
内置RS232C接口和Handler接口。 |
| ● |
显示亮度可调。 |
| ● |
1000V超强冲击保护 | | | | |
|
